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phasics SID4波前传感器
基于Phasics四波横向剪切干涉专利(专利号CN200780005898)技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点),且使用简便。
SID4-HR 光学器件测量 自适应光学
特点:
由于其独特的专利技术技术,Phasics的SID4波前传感器具备以下特点:
1.超高分辨率:160x120测量点
2.直接测量发散和准直光束
3.从400到1100nm消色差
4.自校准:振动不敏感和容易对齐
5.紧凑,体积小
应用:
SID4波前传感器提供新的可能性应用:
激光:光束诊断、自适应光学
光学:精密透镜测试和表面测量
生物学:显微自适应光学
SID4产品参数:
波长范围
400 - 1100 nm
通光孔径
3.6 x 4.8 mm2
空间分辨率
29.6 µm
采样点(相位/强度)
160 x 120 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度
< 2 nm RMS
相位精度
10 nm RMS
动态范围
> 100 µm
采样频率
> 60 fps
实时分析频率
> 10 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
54 x 46 x 75.3 mm
重量
~250 g
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Phasics SID4系列波前分析仪
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Phasics SID4-Swir 短波近红外波前分析仪
Phasics SID4-Dwir中长波红外波前分析仪
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