法国Phasics推出高性价比近红外波前分析仪SID4-SWIR-上海屹持光电技术有限公司

法国Phasics推出高性价比近红外波前分析仪SID4-SWIR

来源： 2018-06-06 11:16:21 点击：

近日，PhasicsCorp为满足客户需求，推出基于专利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪，波段范围900-1700nm，采样点数量高达5120（80*64），灵敏度2nm，动态范围100μm，采样频率120Hz。

SID4-SWIR近红外波前分析仪具有非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

关于Phasics：法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。

关于上海屹持：上海屹持光电技术有限公司作为Phasics中国区域代理商，同时也是一家专业从事激光领域相关产品的研发、引进、销售、方案设计、组装集成、技术服务的现代高科技企业。团队成员具有专业光电背景和长期从业经验，利用自身的专业优势将优秀的科研设备及服务提供给用户。从单个产品到整体解决方案，从商务服务到技术支持，均获得了广大用户的肯定和信赖。

波前分析仪主要应用领域：

1. 激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数

2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形

3. 元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径

4. 光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制

5. 热成像分析，等离子体特征分析

6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像

Phasics波前分析仪产品列表：

型号	SID4	SID4-HR	SID4-DWIR	SID4-SWIR	SID4-SWIR-HR	SID4-NIR	SID4-UV
波长	400-1100nm	400-1100nm	3~5, 8~14µm	0.9~1.7 µm	0.9 ~ 1.7 µm	1.5 ~1.6 µm	250~450 nm
孔径mm	3.6 × 4.8	8.9 × 11.8	13.44 × 10.08	9.6 × 7.68	9.6 × 7.68	3.6 × 4.8	7.4 × 7.4
分辨率μm	29.6	29.6	68	120	60	29.6	29.6
采样点	160 × 120	400 × 300	160 × 120	80 × 64	160*128	160×120	250 × 250
动态范围	> 100 µm	> 500 µm	N/A	~ 100 µm	~ 100 µm	> 100 µm	> 200 µm
精度	10 nm RMS	15 nm RMS	75 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	> 15nm RMS	20 nm RMS
灵敏度	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 25 nm RMS	<2nm RMS	<2nm RMS	< 11nm RMS	2 nm RMS
采样频率	> 100 fps	> 10 fps	> 50 fps	120 fps	120 fps	60 fps	30 fps
处理频率	10 Hz	3 Hz	20 Hz	> 7 Hz	> 7 Hz	10 Hz	> 2 Hz
尺寸mm	54×46×75.3	54×46×79	85×116×179	100×55×63	100×55×63	44×33×57.5	53 × 63 × 83
重量	250 g	250 g	1.6 kg	455 g	455	250 g	450 g

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