产品简介
从当下主流的机械硬盘,到未来的磁性存储单元,磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。 相较于电学霍尔测量和震动磁强计,光磁克尔效应具有测量速度快,精度高,非侵入,且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。通过对磁滞回线的分析,用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息,亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构,磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。
上海屹持光电提供的磁滞回线测量仪标准系统按照性能优先,稳定性优先的设计思路,可以满足实验室研究及工业生产 中各种磁性薄膜材料的测试需求。针对不同磁各向异性材料的光学响应,我们提供两种测试组件:PMA Checker 以及 IMA Looper,两种系统共享一套数据采集系统,切换方便。“控制盒+光磁主体+电脑”的套装(如上图所示)即是完整的设备,无需任何外置仪表(电源,锁相放大器)客户即可快速完成磁滞回线的测量;此外,客户可以自主选择使用锁相放大器(SR830/810,Zurich MFLI)进行数据采集,该设备预留了与锁相放大器匹配的接口。
该磁滞回线测量仪产品提供基于 LabView的程序,方便客户快速上手。基于 C,Python的控制程序也可应客户要求提供。
磁滞回线测量仪应用案例
➢ 自旋/磁电子学 ➢ 磁性纳米技术 ➢ 非易失性磁性随机存储器 ➢ 磁阻研究 ➢ 磁性薄膜
➢ 磁性传感器
右图测试样品结构(Si 衬底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3) (厚度为纳米,X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf )
磁滞回线测量仪技术参数
主要功能 垂直膜磁滞回线测量 测试模式 磁光克尔效应-反射式 光磁主体构成 半导体激光+起偏器+检偏器+探测器+探测器放大电路+电源管理电路+样品托+霍尔传感器(可选)+电磁铁 克尔角分辨率 0.001° 磁场强度1 ±3600 Oe 设备控制盒构成 数据采集模组+电磁铁电源+系统供电模组 供电输入 (控制盒) 220 VAC 50 Hz 数据采集(控制盒内) 16位精度,50kS/s 电磁铁电源 (控制盒内) (控制盒内)90瓦 尺寸(光磁主体)2 60 毫米× 80毫米 × 160毫米 尺寸(控制盒)2 251 毫米× 60毫米 × 38毫米 1 更大磁场强度可按需定制 2 该尺寸不包含光学及电学连接器伸出的部分
该系统的定位是为客户提供稳定、快捷、超高性价比的磁滞回线测量设备,简单并且可靠。如需更多附加功能,例如:磁畴成像,微区测量,集成温控设备,集成电学测量设备,集成样品扫描成像等选项,我们建议客户考虑 TTT-Mag-Kerr Microscope 系列产品。
上海屹持光电技术有限公司