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phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器
基于Phasics专利(专利号CN200780005898)的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm,结构紧凑,易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。
SID4-Swir 光学器件测量 激光束测试
特点:
由于其独特的专利技术技术,Phasics的SID4-LWIR波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:160x108测量点
2.高发散光测量:无需转接透镜
3.消色差:8-14μm
4.紧凑:易于集成
应用:
元器件测试:SID4 LWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于热成像目标,安防,安防视觉。无色差,易于集成。
激光束测试:SID4 LWIR能用于测试光束特性(M²、Strehl比、强度分布,光束参数…)。也适用于远红外光束测量如CO2激光器、红外OPO激光源…
SID4-Lwir产品参数:
波长范围
8-14μm
通光孔径
16 x 12 mm2
空间分辨率
100 µm
采样点(相位/强度)
160 x 120 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度
75nm RMS
相位精度
25nm RMS
动态范围
~
采样频率
24 fps
实时分析频率
10 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
96 x 110 x 90 mm
重量
850g
其他波前分析仪:
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