夏克-哈德曼波前分析仪WFS Shack-Hartmann波前传感器-上海屹持光电技术有限公司

夏克-哈德曼波前分析仪WFS Shack-Hartmann波前传感器

更新：2017-07-31 15:50:47 点击：

品牌： metrolux
型号： WFS3743-40-200

产品介绍

产品简介

波前传感器是自适应光学系统的重要组成部分，用来实时探测由于大气湍流引起的入射光波前畸变。Shack-Hartmann波前传感器通常由微透镜阵列和CCD光电传感器组成，是以波前斜率测量为基础的波前测试仪器，并拥有时-空分辨率高、光能利用率高、结构简单等优点，已成为现代自适应光学系统主要采用的波前传感器。

屹持光电新推出的夏克-哈德曼波前分析仪WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于手机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。

产品应用

√ 用于测量激光的波前；

√ 测量光学器件的像差；
√ 扩展的Raylux软件用于数据分析；

√ 用于透镜的质量控制

规格参数

测量精度	λ / 1000	曝光时间	10μs - 120 s
数据解析度	12 Bit	帧率	15fps
微透镜个数	45×35	探测器类型	2/3CCD
有效区域	8.97×6.71mm	微透镜大小	200μm
焦距	40 mm	动态范围	90 λ
透镜焦距	7 mm	曲率半径	14 mm
像素尺寸	6.45μm	像素	1380 x 1040

$说明: C:\Users\MAZHONGHUA\Desktop\图片\激光测量\raylux_screenshot.png$

软件界面

Shack-Hartmann波前传感器原理简介

Shack-Hartmann波前传感器使用一个微透镜阵列将输入波前分割成微光束阵列。每束光聚焦到放置在微透镜阵列焦平面处的CMOS相机上，如右图所示。若均匀的平面波前入射到Shack-Hartmann传感器上，每个微透镜沿其光轴形成一个光斑，这将在探测器上产生规则的光斑栅格。

然而，畸变波前将会引起一些小透镜聚集的光斑偏移其光轴。因此，传感器上的成像光将由规则的光斑栅格混杂偏移的光斑和缺失的光斑构成。这些信息可用于计算入射到微透镜阵列上的波前的形状。Shack-Hartmann型波前传感器可用于表征光学系统的性能。此外，它们越来越多地用于实时监测波前，以控制自适应光学元件在成像前消除波前畸变。

如上所讨论，微透镜阵列的每个微透镜收集照在其光圈上的光，并在探测器平面上产生一个光斑。下图详细介绍波前入射到单个微透镜上。只有当入射波前是平面的且平行于小透镜平面时，光斑的位置才直接落在透镜（绿色显示）的后方。对于在微透镜区畸变的波前，光斑位置将在X和Y方向（红点显示）偏移，因此每个光斑将以θ角偏离其相应的微透镜的光轴Z。如图中所示，该角度θ与畸变波前和平面波前间的角度相同。