BM3743-UV极紫外光束质量分析仪
metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。
具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。
机械部分采用特殊表面细化、光学部分采用光学增透膜把杂散光减小到最小的优化探测头。
VIS/NIR激光光束分析仪 UV激光光束分析仪
基于激光光束分析仪的“光束检测”的CCD相机，被优化适合于低输出功率的连续和脉冲激光器准直光束分析，大部分VIS/NIR波长范围的激光，可用此系统典型分析，例如Nd:YAG或者半导体激光器通常使用此系统分析。
光束质量分析仪包含Beamlux II软件、标准摄像头及附件如中性密度滤光片组合和可快速建立测量的设备，使用这些可选配件，系统也可用于高功率激光束和焦点直径小于10µm的测量。
产品特点：
荧光膜CCD传感器
单脉冲分辨率最大300Hz
用于XUV、EUV和UV波长
高级版BeamLux II光束质量分析软件
产品参数
波长： 10 - 1100 nm
功率： <1W
传感器类型： CCD2/3"
有效面积： 8.9X6.74mm2
像元大小： 15µm
软件： Beamlux II高级版
光束类型： 原始发散光
光斑大小： 65µm-5mm
能量密度： <50mJ/cm2
接口： IEEE1394
工作距离： 17.5mm
重量： 300g
产品应用：光斑大小、发散角、近场、远场、光束指向稳定性、功率、均匀性
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